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DKMX103D轮廓仪

非接触式3D表面形貌测量系统

DKMX10光学轮廓仪是一种非接触式3D表面形貌测量系统。DKMX10的白光干涉仪可以埃 级分辨率对表面进行高分辨率测量。该系统支持相位和垂直扫描干涉测量,两者都是传统 的相干扫描干涉技术(CSI)。DKMX10进一步扩展了这些技术,它采用SMARTAcquire为新 手用户简化了程序设置,并且采用z-stitching干涉技术可以对大台阶高度进行高速测量。 DKMX10测量技术的优势在于测量的垂直分辨率与物镜的数值孔径无关,因而能够在大视野 范围内进行高分辨率测量。测量区域可以通过将多个视场拼接为同一个测量结果而进一步增 加。DKMX10的用户界面创新而简单,适用于从研发到生产的各种工作环境。

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1、针对纳米级到毫米级特征的相位和垂直扫描干涉测量;

2、SMARTAcquire简化了采集模式并采用已知最佳的程序设置的测量范围输入;

3、Z-stitching干涉技术采集模式,可用于单次扫描以及编译多个纵向(z)距离很大的表面;

4、XY-stitching可以将大于单个视野的连续样本区域拼接成单次扫描;

5、使用脚本简化复杂测量和工作流程分析的创建,实现了测量位置、调平、过滤和参数计

算的灵活性;

6、利用已知最佳技术,从其他探针和光学轮廓仪转移算法;


台阶高度:纳米级到毫米级的3D台阶高度

纹理:3D粗糙度和波纹度

形式:3D翘曲和形状

边缘滚降:3D边缘轮廓测量

缺陷复检:3D缺陷表面形貌




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