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DETF20膜厚测量仪

DETF20膜厚测量仪通用的膜厚测量仪器,在全球成千上万的应用中得到使用。厚度和折射率可以在不到一秒的时间内测量到。与我们所有的厚度测量仪器一样,DETF20连接到计算机的USB端口并在几分钟内完成设置。不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数,还是想要知道材料的反射率和透过率,DETF20膜厚测量仪都可以满足需求。

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可测薄膜多种参数;

设备数秒内得到测量结果;

嵌入式在线诊断


可适用与测量半导体薄膜、光刻胶、工艺薄膜、玻璃厚度




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