SCE(IR)-HR-C1光谱共焦传感器完美适用于非接触式测量轮廓和层厚度。 该传感器采用了两种不同的测量方法，可以进行 30 µm 至 1200 mm 的厚度测量，距离测量的横向分辨率在次微米范围内。 高强度光源和不同寻常的高动态性能可通过卓越的信噪比确保具有不同反射强度和倾斜度的表面上最佳的测量结果。
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SCE(IR)-HR-C1光谱共焦传感器特点：
距离和层厚度；
特别高的横向分辨率；
所有表面上进行的测量；
在线和离线；
简单集成；
无损伤测量；
坚固耐用；
自动光量控制；
定位校正激光；
SCE(IR)-HR-C1光谱共焦传感器应用领域：
SCE系列传感器利用多种先进的技术来实现快速距离和厚度测量。 传感器采用的光谱共焦(Chromatic confocal)和光干涉 (Interferometric)原理使其可以对几乎任何表面做测量,另外不同种类的白光和红外光源方便了传感器测量多种材料。在光伏设备、玻璃行业、半导体行业、医学、塑料盒坐标测量技术上得到了的广泛的应用和认可。
SCE(IR)-HR-C1光谱共焦传感器技术规格：
SCE(IR)-HR-C1光谱共焦传感器测量原理：
白光光源①发出白光，经过光纤分路器③进入光纤传导，再通过针孔④白光到达色散物镜⑤，在被测物一侧产生色散，由于波长不同，只有焦点在被测表面上的光才能被反射透过针孔④， 进入针孔④后方的光谱分析仪②。焦点在被测表面上的光波长在光谱分析仪中体现为峰值，由光谱仪的光谱分布可以判断被测物体的高度。
英国真尚有_光谱共焦线扫描传感器 | SCE(WL)-2D
SCE(WL)-2D光谱共焦线扫描传感器能提供每秒384,000点的超快3D测量，并伴随纳米级的分辨率。得益于稳健与高集成度的设计，SCE(WL)-2D能够方便地集成入生产线上的检验设备，并能胜任于严酷的工业生产环境。传感器的高动态反应和接触的信噪比使其能应用于所有材料包括抛光和严重倾斜的表面。SCE(WL)-2D无与伦比的性价比无疑是超高速3D检测的首选。
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英国真尚有_共焦传感器 | SCE(IR)-PRS-C2-1000
SCE(IR)-PRS-C2-1000共焦传感器提供了高达每秒66,000此的测量速度。伴随着内置LED光源使其成为非接触表面形貌和厚度测量的最佳传感器。SCE系列传感器的杰出的动态反应和高信噪比可确保在不同反射率的表面及不同测量角度下都能得到最好的测量结果。传感器还可以在光谱共焦和光干涉模式中切换，能普遍适用于产线上的质量监控。
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英国真尚有_光学传感器 | 共焦传感器 | SCE(IR)-WF1-C1
SCE(IR)-WF1-C1 光学传感器配合红外线灯光进行工作，专门针对纤薄晶片的非接触式厚度测量进行了优化。 其它应用领域包括不透明材料的厚度测量，以及透明塑料薄膜的厚度测量。 借助干扰测试测量方法可以从一面进行高分辨率的稳定可靠的测量。 SCE系列传感器不同寻常的高动态性能和卓越的信噪比可确保最佳的测量结果。
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