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英国真尚有_10nm光谱共焦位移传感器 | 10um光斑 ±0.02%线性度 | EVCD10

型号:EVCD10

EVCD10光谱共焦位移传感器通过高品质光学镜头沿着光轴在不同距离而非单个点上聚焦白光,所有的可见光波段都在焦点上。这种多功能的光学传感器为测量技术开辟了新的维度。可达到0.02%FS的线性度。



EVCD10光谱共焦位移传感器是基于色散共聚焦原理来测量位移或厚度的仪器,控制器通过一根专用光纤和测量头连接。接入电源为24V DC,通过以太网接口进行数据输出。其编码器接口可 以外接3路增量式单端光电编码器信号,使各位置数据和测量数据一一对应。同时可以与外部触发信号同步,也可以输出触发信号同步其它设备。



EVCD10光谱共焦位移传感器的控制器主要进行光谱信号采集、处理、计算,通过以太网接口将数据传输给PC。探头是完全无源的,没有包含热源和移动部件;将探头连接到控制器上的光缆最长可以定做到10m。



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真尚有画册_激光光谱共焦位移传感器EVCD10 V1.0.pdf

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EVCD10 10nm光谱共焦位移传感器特点:

(1)、超高精度±0.02% F.S.)和分辨率(最高2nm

(2)、光斑更小(最小2um)

(3)、测量值无平均化处理

(4)、高稳定性,透明物体,镜面物体,高光亮金属均可以检测

(5)、超强厚度测量能力,可同时输出多层厚度及位移值

(6)、具有超大角度测头LHP4-Fc,角度特性±45°

(7)、专门针对自动化应用提供丰富的通讯接口

(8)、提供使用所需配件,DC 24V 3A电源,以太网连接线,IO触发线

(9)、创新技术,彩色光谱共焦:突破常规LED光源亮度分布不均匀局限,全量程精度更高,稳定性更强。半峰宽比常规型小1/2以上, 采样精度是常规性型1.33倍。

(10)、直接测量玻璃或半透明物体厚度



EVCD10 10nm光谱共焦位移传感器应用领域:

     可用于透明,半透明物体测厚,高精度距离、厚度检测

光谱共焦传感器EVCD10应用图


EVCD10 10nm光谱共焦位移传感器技术规格:

光谱共焦传感器EVCD10参数表

EVCD10 10nm光谱共焦位移传感器测量原理:

白光光源①发出白光,经过光纤分路器③进入光纤传导,再通过针孔④白光到达色散物镜⑤,在被测物一侧产生色散,由于波长不同,只有焦点在被测表面上的光才能被反射透过针孔④, 进入针孔④后方的光谱分析仪②。焦点在被测表面上的光波长在光谱分析仪中体现为峰值,由光谱仪的光谱分布可以判断被测物体的高度。

EVCD10 10nm光谱共焦位移传感器应用领域:

可用于透明,半透明物体测厚,高精度距离、厚度检测

  



EVCD10 10nm光谱共焦位移传感器应用领域:

可用于透明,半透明物体测厚,高精度距离、厚度检测

  



EVCD10 10nm光谱共焦位移传感器安装尺寸:

光谱共焦传感器EVCD10尺寸图


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