边缘检测是图像处理和计算机视觉中的一项基本任务,在识别图像中物体的边界方面起着至关重要的作用。这项技术在物体识别、物体跟踪和图像分割等各种应用中都非常重要。半导体行业是明显受益于边缘检测的行业之一。近年来,该行业呈指数级增长,在很大程度上依赖边缘检测来保证设备的可靠性和性能。 在晶圆制造过程中,硅晶圆需要经过晶体生长、切片、抛光和清洁等多个复杂工序。在这些阶段中,硅片边缘可能会出现划痕、裂纹或污染等不必要的缺陷。这些缺陷可能会导致设备故障或产量下降。为了降低这些风险,制造商采用了先进的检测系统,可以准确检测出晶圆边缘的缺陷并对其进行分类。使用边缘检测的原则也适用于半导体制造的其他阶段,包括光刻、蚀刻、封装和装配。因此,边缘检测对于保持半导体行业的高质量和高效率标准是不可或缺的。 英国真尚有ZM106系列边缘传感器就是低成本边缘检测的首选。它基于先进的“阴影”原理,由控制器和测量探头两个部分组成,其中测量探头包含发射器和接收器两个模块。一个控制器可配2组测量探头,轻松进行两个位置的边缘测量。 英国真尚有ZM106系列边缘传感器专为非接触测量和监控各种物体(如胶带、板、基板等)的边缘位置而研发,拥有±20um高精度、1um重复性、7mm测量范围的高性能。而且,ZM106系列边缘传感器的测量探头小巧轻便,发射器和接收器之间距离可高达30mm,安装非常简单。不单如此,控制器还支持直接数显,无需额外数显设备。 简而言之,英国真尚有ZM106系列边缘传感器提供了一个简单易用、低门槛、低成本的边缘检测方案。 |
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