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共焦传感器EVCD系列螺纹孔深度调查 ,就找英国真尚有

2025/07/25

在现代工业制造中,螺纹孔的深度测量是确保产品质量和精度的重要环节。随着产品复杂性和精密度的提升,传统的测量方法已经无法满足日益增长的需求,因此高效、精准的测量工具显得尤为重要。对于螺纹孔的深度测量,不仅需要高分辨率和高精度的设备,还要能够适应不同材料和复杂形状的测量要求。目前市场上可供选择的检测方案主要包括机械测量和光学测量。虽然机械测量工具如深度卡尺和内径千分尺结构简单且易于操作,但其测量准确性和效率无法满足高精度制造的需求。而光学测量工具如激光测距仪和光学显微镜在精度和速度上具有优势,但在复杂形状和多材质测量时,往往面临反射和折射等问题,限制了其应用范围。因此,市场对于一种能够同时满足高精度和多样化测量需求的新型检测设备的呼声愈发强烈。

在这一背景下,英国真尚有推出的EVCD系列光谱共焦测位移传感器成为优化螺纹孔深度测量的理想选择。该系列传感器采用先进的光谱共焦技术,能够在多种材质上进行稳定的测量,包括金属、陶瓷和玻璃等。EVCD系列高精度位移传感器的一个显著优势是其出色的测量性能,采样频率高达33,000Hz,分辨率最高可达1nm,线性精度可达±0.01%F.S.,特定型号如Z27-29更是可实现±0.01μm的高精度测量,这使得其在螺纹孔深度测量中具备了极大的优势。此外,EVCD系列光谱共焦测位移传感器的量程范围从±55μm至±5000μm不等,能够满足不同深度和规格的螺纹孔测量需求。在复杂形状的测量上,EVCD系列共焦位移传感器同样表现不俗,能够应对弧面、深孔和斜面的测量,最大可测倾角达87°。与传统的测量工具相比,英国真尚有EVCD系列光谱共焦传感器在测量精度、适应性及速度上均有显著提升,确保了螺纹孔深度的精准测量。



值得一提的是,EVCD系列高精度位移传感器也极具人性化,最小探头外径仅为3.8mm,能够轻松适应小孔内部特征的测量需求。同时,其可视化测量功能和多种测量模式的支持,使得操作更加直观和便捷。无论是在3C电子、半导体还是精密制造行业,EVCD系列高精度位移传感器都能提供全面、高效的解决方案,帮助企业提升生产效率和产品质量。凭借其卓越的性能和灵活的应用能力,英国真尚有EVCD系列光谱共焦测位移传感器成为螺纹孔深度测量领域的领先选择。随着工业制造对测量精度的日益严格,该系列产品必将为各行业提供更加可靠的检测支持,助力企业在竞争中脱颖而出。针对特殊应用,市场上绝大多数品牌不支持定制或者无法小批量定制,有些即使能定制但费用高昂,而英国真尚有持续提供小批量、低成本定制传感器或方案,既满足了项目的特殊要求,又兼顾了低成本,直接促成了多个项目的成功。


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