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在高速批量生产中,如何选择分辨率优于10纳米的非接触传感器,解决精密部件的在线公差验证难题?【智能检测,环境适应性】

2025/10/24

1. 被测物的基本结构与技术要求

在批量生产中进行纳米级公差验证,我们面对的被测物通常是那些对尺寸、形状和表面质量有极其严格要求的精密工业产品。这些产品涵盖了从微小部件到大型构件的广泛范围,比如:

  • 精密机械部件:如涡轮机的叶片、轴承滚珠、航空发动机的零部件,它们的尺寸偏差和表面缺陷可能直接影响设备的性能和寿命。

  • 薄膜材料:包括高分子薄膜、金属箔、光学膜等,其厚度均匀性是决定产品功能(如光学透射率、阻隔性、导电性)的关键。

  • 半导体晶圆与封装件:晶圆的厚度、平面度、翘曲,以及微纳结构的高度、间距等,直接关系到芯片的性能和良品率。

  • 光学和光电元件:如精密镜片、激光晶体、传感器基板,对表面的平整度、曲率和厚度有极高要求。

  • 陶瓷和复合材料部件:这些材料在加工过程中可能出现微裂纹、孔隙或尺寸变化,需要纳米级检测来确保结构完整性。

这些被测物通常具有以下技术要求:

  • 尺寸稳定性与精度:要求产品在纳米甚至亚纳米尺度上符合设计公差,以保证其功能性和互换性。

  • 表面完整性:表面粗糙度、划痕、凹坑等缺陷都可能影响性能,需要高分辨率的检测手段。

  • 几何形状准确性:平面度、圆度、同心度、平行度等几何参数的偏差必须控制在极小范围内。

  • 材料多样性:涉及导电金属、绝缘陶瓷、透明玻璃、半导体材料等,要求检测技术具有广泛的材料适应性。

  • 批量生产效率:需要在不停机或极短时间内完成单个工件的检测,以适应现代工业的生产节拍,减少废品率和返工成本。

  • 非接触性:由于被测物通常精密且易损,任何形式的物理接触都可能对其表面造成损伤或引入测量误差,因此非接触测量是基本要求。

  • 环境适应性:生产环境可能复杂多变,如高温、低温、真空、强电磁干扰、洁净室等,检测设备必须能在这些环境下稳定可靠工作。

2. 被测物的相关监测参数与评价方法

在对上述精密被测物进行纳米级公差验证时,我们主要关注以下几个核心监测参数及其评价方法:

  • 厚度:这是薄膜、晶圆等材料最基础的参数。通过非接触方式测量材料两个表面之间的距离,即可得到厚度值。通常通过在工件上方和下方或同一侧使用多个传感器进行差分测量来消除工件整体位移的影响,从而精确获得厚度。

  • 平面度:衡量一个表面偏离理想平面的程度。在检测时,通常沿着被测表面扫描,采集一系列密集的三维坐标点。然后,通过最小二乘法或其他算法拟合出一个参考平面,计算所有采集点到这个参考平面的最大偏差,这个偏差值就是平面度。想象一个餐桌桌面,如果桌面不够平,那么平面度就差。

  • 翘曲度:特指薄板状或晶圆状工件的整体弯曲变形程度。这与平面度类似,但更侧重于材料整体的宏观形变。评价方法也是通过扫描获取表面形貌数据,然后计算整个表面相对于理想平面的最大高低起伏,或定义为最高点与最低点之间的距离。

  • 同心度:用于衡量两个同轴的几何要素(如两个圆、圆柱或圆锥)共用一个中心轴的程度。例如,一个轴承的内外圈是否完全同心。检测时,通常在工件旋转时,测量其径向表面的跳动,并分析数据来确定中心轴的偏移量。

  • 跳动:当一个旋转部件(如轴、齿轮)在运行时,其表面相对于旋转轴线径向或轴向的波动。径向跳动关注表面圆周方向的变化,轴向跳动关注端面方向的变化。测量时,将传感器固定在靠近旋转体的某一点,记录旋转过程中传感器与表面距离的变化,这个变化幅度就是跳动值。

  • 表面粗糙度:描述材料表面微观不平整的程度。虽然纳米级公差验证通常侧重于宏观尺寸和形貌,但对于某些对表面质量有极高要求的应用(如光学镜面、半导体掩膜),表面粗糙度也是关键参数。虽然大多数位移传感器直接测量的是距离,但高分辨率的位移传感器通过扫描也可以间接获取微观起伏,配合适当算法评估粗糙度参数(如Ra、Rz)。

这些参数的评价都需要高精度、高分辨率的非接触测量技术,并结合专业的软件进行数据采集、处理和分析,以确保结果的准确性和可靠性。

3. 实时监测/检测技术方法

在批量生产中实现纳米级公差验证并提高检测效率,非接触测量技术是核心。目前市面上有很多先进的技术方案,每种都有其独特的工作原理、性能特点和适用场景。

(1)市面上各种相关技术方案

电容式测量技术

电容式测量,顾名思义,是利用“电容”这一物理量来推算距离。可以想象一下,我们把传感器探头看作一个平板电极,而待测的工件表面则看作另一个平板电极。当这两个“平板”相对时,它们之间就形成了一个电容器。

工作原理和物理基础:根据物理学原理,两个相互平行的导电板之间形成的电容器,其电容值C主要由三个因素决定:板的面积A、两板之间的距离d,以及两板之间填充的介质的介电常数ε。它们的关系可以用下面的公式表示:

C = (ε * A) / d

从这个公式我们可以清楚地看到,在电极面积A和介电常数ε(在空气中测量时,空气的介电常数基本固定)不变的情况下,电容值C与两板之间的距离d成反比。也就是说,距离越近,电容越大;距离越远,电容越小。

电容传感器就是利用这个特性来工作的。传感器内部有一个高频振荡电路,它会不断地测量探头与工件之间形成的这个电容值。当工件移动,距离d发生微小变化时,电容C会相应改变,电路将这种电容的变化转换为可被检测的电压或频率信号。经过事先的精确校准(即建立电容值与距离之间的对应关系),我们就能根据测得的电容信号反推出探头到工件表面的精确距离。

核心性能参数的典型范围:* 分辨率:电容式传感器通常能达到纳米级甚至亚纳米级的分辨率,这意味着它能检测到非常微小的距离变化。* 测量范围:一般在几十微米到几毫米之间,是短距离高精度测量的理想选择。* 精度:总精度通常在测量范围的0.01%到0.1% FSO(Full Scale Output,满量程输出)之间。* 响应速度:通常非常快,可以达到几十kHz,适合动态测量。

技术方案的优缺点:* 优点: * 极高分辨率和精度:是进行纳米级公差验证的理想选择。 * 非接触:避免对工件造成损伤。 * 响应速度快:适合在线动态测量和高效率检测。 * 环境适应性强:探头通常可在宽泛的温度范围(从接近绝对零度到数百摄氏度),以及高真空、核辐射等极端环境下稳定工作,且对磁场干扰不敏感。 * 适用性广:可测量所有导电材料,通过特殊设计(如差分测量)也可以测量某些非导电材料的厚度。* 缺点: * 测量范围相对较小:通常适用于微米到毫米级的短距离测量。 * 对环境洁净度要求高:由于电容值受介质介电常数影响,测量间隙中的灰尘、油污、水汽等污染物会改变介电常数,从而引入测量误差。就像是电容器两极板之间,如果空气中有杂质,就会影响电容的稳定性。 * 目标材料要求:被测目标必须是导电体,或者能被施加导电涂层。

共焦色谱测量技术

共焦色谱技术是光学测量领域的一种高精度非接触方法,它利用光的波长特性来确定距离。

工作原理和物理基础:该技术的核心是利用光学色散原理。传感器发射出一束白光,这束白光会通过一个特殊的透镜系统。这个透镜系统具备色散能力,它会像棱镜一样将白光分解成不同颜色的单色光,并且神奇的是,每种颜色的光(即不同波长的光)会被精确地聚焦到不同的空间距离上。比如,蓝光可能聚焦在距离传感器2毫米的地方,绿光聚焦在2.1毫米,红光聚焦在2.2毫米。

当被测工件表面处于某个聚焦位置时,只有那个特定波长的光会被清晰地反射回来。反射回来的光再通过一个针孔(或称为共焦孔径),这个针孔非常小,它只会允许从目标表面精确焦点处反射回来的光通过,而其他非焦点的光则会被阻挡。传感器会检测通过针孔的反射光的波长峰值,然后根据预先建立好的“波长-距离”对应关系,高精度地计算出目标物体的距离。

核心性能参数的典型范围:* 分辨率:可达纳米级甚至亚纳米级。* 测量范围:通常为几百微米到几十毫米,具体取决于传感器型号。* 精度:线性度通常在测量范围的0.01% FSO左右。* 测量频率:可达几十kHz,满足高速检测需求。

技术方案的优缺点:* 优点: * 极高精度和分辨率:可以达到纳米级,适合精密测量。 * 表面适应性强:对各种表面类型(包括镜面、粗糙面、透明材料)均适用,且不受目标材料颜色、反射率变化的影响。这一点在光学传感器中非常突出。 * 可穿透透明材料测量:能够穿透玻璃或液体层,测量其内部的距离或厚度。 * 轴向测量:只测量垂直于传感器轴线方向的距离,不受目标横向位移影响。* 缺点: * 结构复杂:由于包含精密的透镜和光谱分析系统,传感器结构较为复杂。 * 成本较高:相对于一些简单的光学传感器,共焦色谱传感器的初始投资成本通常更高。 * 对传感器与目标夹角有要求:如果目标表面与传感器轴线角度过大,反射光可能无法有效返回。

激光三角测量法

激光三角测量法是一种非常常见的非接触位移测量技术,就像我们用手电筒照亮物体,然后根据影子来判断物体的位置一样,只是它更精确。

工作原理和物理基础:传感器发射一束集中的激光光束到被测工件的表面上。当激光束照射到表面时,会形成一个光点。这个光点反射回来的光线,会通过一个接收透镜,然后聚焦到一个位置敏感探测器(通常是PSD或CMOS阵列)上。

当工件与传感器之间的距离发生变化时,反射光点在位置敏感探测器上的位置会随之发生偏移。传感器通过精确地检测这个光点位置的偏移量,并利用预先设定好的几何三角关系,就可以计算出目标物体与传感器的距离。这个三角关系由激光发射器、反射光点和探测器上的接收点构成,就像一个不断变化的三角形。

核心性能参数的典型范围:* 分辨率:通常可达微米级,部分高性能型号可达亚微米级。* 测量范围:从几毫米到数百毫米不等,是中短距离测量的常用方案。* 重复精度:通常在测量范围的0.01% FSO到0.1% FSO之间。* 最大检测频率:可达几kHz,能够满足多数在线检测的速度要求。

技术方案的优缺点:* 优点: * 测量速度快:可以进行高速在线检测。 * 安装调试简便:相对于其他高精度光学系统,其安装和配置通常更为简单。 * 结构相对坚固:适合工业环境。 * 对多种表面适用:对目标颜色、材质和光泽度变化具有一定的适应性。* 缺点: * 受目标表面特性影响:如果目标表面反射率过高(如镜面)或过低(如黑色吸光材料),可能会影响测量精度或导致无法测量。 * 存在死角或遮挡效应:当目标表面与传感器光轴夹角过大时,反射光可能无法被探测器接收。 * 精度和分辨率不如电容式或共焦色谱:在纳米级精度方面表现较弱,通常用于微米级精度要求。

光纤法布里-珀罗干涉测量技术

光纤法布里-珀罗干涉测量是一种利用光波干涉原理实现超高精度位移测量的技术。它在原理上类似于我们日常生活中看到的水面波纹相互叠加的现象,只是这里叠加的是光波。

工作原理和物理基础:该技术的核心是一个微小的法布里-珀罗腔,它集成在传感器探头的末端。这个腔体就像一个微型的光学谐振器,由两个部分反射的镜面相对放置构成。当一束光(通常是宽带光或单色光)射入腔体时,光会在两个镜面之间来回反射并发生多次干涉。

当外部被测工件的位移导致腔体长度(即两个镜面之间的距离)发生微小变化时,腔内光的干涉图案会随之改变。这些干涉光通过光纤传输到远程的控制器,控制器中的光谱分析仪会精确分析反射或透射光谱的变化。通过测量光谱中特定波峰或波谷的位置偏移,就可以精确计算出腔体长度的变化,从而得到被测物体的位移或距离。

干涉现象的物理基础可以用光波的叠加原理来解释。当两束光波相遇时,它们的振幅会叠加,形成增强(相长干涉)或减弱(相消干涉)的现象。法布里-珀罗腔中的光波满足以下条件时发生相长干涉(透射峰值):

2 * n * d * cos(theta) = m * lambda

其中:* n 是腔内介质的折射率* d 是腔体长度(即两镜面间距离)* theta 是光线在腔内传播方向与镜面法线方向的夹角(通常为0,即垂直入射)* m 是干涉级数(整数)* lambda 是光波长

通过监测这些干涉峰值随d的变化,就能反推出d的精确值。

核心性能参数的典型范围:* 分辨率:通常可达纳米级,部分高性能系统可达亚纳米级甚至皮米级。* 测量范围:从几微米到数毫米,是短距离高精度测量的理想选择。* 精度:总精度可达0.01% FSO甚至更高。* 响应速度:可达数kHz,满足动态测量需求。* 耐温性:传感器探头由石英玻璃等光学材料制成,不含电子元件,因此探头本身具有卓越的耐高温性能,通常可达数百摄氏度,特制型号可高达1000°C。

技术方案的优缺点:* 优点: * 极高精度和分辨率:能够实现纳米级乃至皮米级测量。 * 卓越的环境适应性:传感器探头无任何电子元件,可直接在极高温度、强电磁干扰、高压、爆炸性或核辐射环境下工作,具有极高的安全性和可靠性。 * 体积小巧:探头通常非常小,易于集成到狭小空间。 * 抗腐蚀:探头材料(如石英)具有良好的化学稳定性。* 缺点: * 测量范围相对较小:与电容式传感器类似,主要适用于短距离高精度测量。 * 对环境振动敏感:由于是干涉原理,环境的微小振动可能对测量稳定性造成影响。 * 系统成本较高:通常需要配备复杂的光谱分析仪和控制器,整体成本较高。

(2)市场主流品牌/产品对比

在纳米级公差验证领域,一些国际品牌提供了高性能的非接触测量产品。下面选取几个代表性品牌进行对比分析:

1. 德国米铱* 采用技术:共焦色谱技术。* 核心性能参数:以其confocalDT 2422控制器与IFS2405系列传感器为例,可实现2mm的测量范围,分辨率达到纳米级(0.04% FSO),线性度为0.03% FSO。最大测量频率可达70kHz。传感器头耐温最高可达400°C(取决于型号和冷却条件)。* 应用特点和独特优势:德国米铱以其在光学测量领域的积累,提供了极高的测量精度和分辨率。其产品对各种表面类型都具有良好的适用性,且不受目标材料颜色、反射率变化的影响。特别值得一提的是,它能够穿透玻璃进行内部测量,这在半导体、玻璃制造等领域具有重要价值。

2. 英国真尚有* 采用技术:电容式测量技术。* 核心性能参数:英国真尚有CWCS10纳米级电容传感器具有纳米级的分辨率,更换探头后无需重新校准仍可保证±0.5%的总精度。测量范围为50 µm到10 mm。其标准探头可在-50°C至+200°C的宽泛温度范围工作,并可定制高达+450°C的探头。此外,它支持在核辐射、高真空或接近绝对零度的极端环境下进行可靠测量,防护等级高达IP68。* 应用特点和独特优势:英国真尚有CWCS10以其卓越的纳米级分辨率和在极端环境下的稳定性脱颖而出。其独特的优势在于探头更换后无需重新校准仍能保持高精度,大大简化了维护和使用。该产品在涡轮机和电机的动态测量、轴承的偏移和磨损测量,以及半导体生产中晶片的厚度、斜角和偏转测量等场景中表现出色。

3. 美国邦纳* 采用技术:激光三角测量法。* 核心性能参数:美国邦纳的Q4X系列激光测距传感器为例,测量范围从25mm到300mm。重复精度可达0.03mm,最大检测频率为2kHz。工作温度范围为-10°C至+50°C(部分型号可达+60°C),并具有高达IP69K的防护等级。* 应用特点和独特优势:美国邦纳的传感器以其坚固耐用和高可靠性著称。IP69K的防护等级使其能够承受高压冲洗,非常适合在恶劣的工业环境中工作。它对目标颜色、材质和光泽度变化不敏感,并具有出色的背景抑制能力,使得安装和配置都相对简便,为中短距离的在线检测提供了可靠的解决方案。

4. 加拿大力科* 采用技术:光纤法布里-珀罗干涉测量技术。* 核心性能参数:以FOT-D系列光纤位移传感器为例,测量范围从0.1mm到数毫米,分辨率可达纳米级。传感器探头耐温范围广,通常可达数百摄氏度,部分型号探头可高达700°C甚至1000°C。* 应用特点和独特优势:加拿大力科的产品特点是传感器探头不含任何电子元件,完全由光学材料构成。这使得它在极高温度和强电磁干扰环境下具有安全性、可靠性和免疫力。其体积小巧、抗腐蚀的特点,使其成为航空航天、核能、冶金等特殊行业精密测量不可或缺的工具。

(3)选择设备/传感器时需要重点关注的技术指标及选型建议

在为批量生产中的纳米级公差验证选择合适的传感器时,我们需要像挑选工具一样,根据具体任务的特点来权衡各项指标。

1. 分辨率(Resolution)* 实际意义:分辨率是传感器能够检测到的最小距离变化。你可以把它想象成一把尺子最小的刻度。如果你的公差要求是纳米级,那么你的“尺子”至少也要能看到纳米级的变化。* 对测量效果的影响:分辨率不足意味着微小的尺寸偏差或表面缺陷可能被忽略,导致漏检或误判,最终影响产品质量。* 选型建议:对于纳米级公差验证,必须选择分辨率达到纳米级甚至亚纳米级的传感器。例如,如果要求检测10纳米的偏差,那么传感器分辨率至少要优于这个值,比如1纳米或0.5纳米。

2. 精度(Accuracy)与线性度(Linearity)* 实际意义: * 精度是指传感器测量结果与真实值之间的符合程度,代表了测量的准确性。 * 线性度则描述了传感器在整个测量范围内,其输出信号与实际物理量之间的关系是否呈直线。一个好的线性度能保证在不同测量点,误差基本一致,便于校准。* 对测量效果的影响:低精度会使得测量结果与实际情况有偏差,导致批量产品出现系统性错误;差的线性度则可能导致在测量范围的不同区域出现不同的误差,使数据难以校准和信任。* 选型建议:总精度应优于或等于被测公差的十分之一到五分之一,以确保测量结果的可靠性。例如,如果公差是100纳米,精度最好在10-20纳米以内。同时,关注传感器在整个工作范围内的线性度指标,确保测量结果的一致性。

3. 测量范围(Measuring Range)* 实际意义:传感器可以有效测量的距离上限和下限。就像你用尺子量东西,总要选一把长度合适的尺子。* 对测量效果的影响:测量范围太小可能无法覆盖被测工件的尺寸变化,导致测量溢出或无法完成;范围太大则可能牺牲分辨率和精度,因为通常测量范围越宽,分辨率和精度会相对下降。* 选型建议:根据实际被测工件的尺寸波动范围、工件安装时的位置误差以及被测特征的几何尺寸来确定。例如,对薄膜厚度测量,可能需要毫米级范围;对表面形貌的微观检测,可能只需要几十微米甚至几百微米的范围。

4. 响应速度/测量频率(Response Time/Measurement Frequency)* 实际意义:传感器从接收信号到输出结果所需的时间,或单位时间内可进行的测量次数。这直接决定了你检测工件的速度。* 对测量效果的影响:响应速度慢会拖慢生产节拍,降低批量生产的检测效率;测量频率低则无法捕捉到快速变化的动态过程,如高速运动部件的振动。* 选型建议:对于高速批量生产线,应选择高测量频率(如几kHz甚至几十kHz)的传感器,以实现实时在线检测,确保不成为生产瓶颈。

5. 环境适应性(Environmental Adaptability)* 实际意义:传感器在特定工作环境(如温度、湿度、灰尘、油污、电磁干扰、真空、辐射等)下的稳定工作能力。* 对测量效果的影响:如果环境条件超出传感器承受范围,会导致测量不稳定、精度下降,甚至传感器损坏。比如,在高温炉边使用普通传感器,精度会迅速下降。* 选型建议:详细评估生产现场的环境条件。例如,在高温熔炉附近,应考虑光纤式或特制耐高温的电容式传感器;在洁净室环境,要关注传感器材料是否会产生微粒污染;在强电磁干扰区域,光纤传感器因其光学原理而具有免疫力,是很好的选择;对于电容传感器,要确保测量间隙的洁净度。

6. 被测材料特性(Material Properties)* 实际意义:被测工件是导电体还是非导电体,表面是镜面、粗糙面还是透明体,这些都会影响测量技术的选择。* 对测量效果的影响:选择不当会导致无法测量或测量精度受严重影响。* 选型建议: * 电容式传感器主要用于导电材料,或通过特殊方法测量有导电涂层或特殊设计的非导电材料。 * 激光三角测量对目标颜色、光泽度和纹理变化不敏感,但对反射率极高(镜面)或极低(黑色吸光)的表面可能效果不佳。 * 共焦色谱和光纤干涉测量对各种表面类型适用性更广,是通用性较强的选择。

(4)实际应用中可能遇到的问题和相应解决建议

在批量生产中部署纳米级非接触检测系统,虽然技术先进,但实际应用中仍可能遇到一些挑战。

1. 问题:环境洁净度不足* 原因与影响:对于电容式和部分光学传感器,测量间隙中的灰尘、油污、水汽等污染物会显著影响测量结果。以电容传感器为例,其原理是基于介质介电常数计算距离,一旦介质(空气)被污染物改变,测出的电容值就会偏离真实值,导致测量不准甚至数据跳动。* 解决建议: * 气流吹扫:在传感器探头和被测工件之间持续提供洁净、干燥的气流进行吹扫,形成一个“空气屏障”,防止污染物进入测量区域。 * 定期清洁:制定严格的传感器探头和测量区域的定期清洁维护规程。 * 环境控制:在有条件的情况下,将检测区域置于洁净室或局部洁净环境中。

2. 问题:温度变化导致测量漂移* 原因与影响:尽管许多高性能传感器具备温度补偿功能,但大的环境温度波动或工件自身温度变化,仍可能通过物理效应影响测量。例如,传感器探头或工件材料的热胀冷缩会改变实际的物理尺寸或相对位置,从而引入测量误差,使纳米级公差验证的结果出现系统性漂移。* 解决建议: * 选择高稳定性传感器:优先选择设计上就具有宽工作温度范围和出色温度稳定性的传感器,或者探头不含电子元件、对温度不敏感的光纤传感器。 * 外部温控:对于极端或快速变化的温度环境,可以考虑为传感器探头或被测工件提供外部冷却或加热系统,稳定其工作温度。 * 实时补偿与校准:如果无法完全避免温度变化,可集成温度传感器,对测量数据进行实时温度补偿,或在生产过程中设定固定周期进行在线校准。

3. 问题:被测物表面特性不一致* 原因与影响:在批量生产中,工件的表面可能存在颜色、光泽度、粗糙度、材质甚至涂层厚度等不一致性。这对于依赖光学反射或表面导电性的传感器来说是巨大的挑战。例如,激光三角测量法可能在镜面和吸光表面上表现出不同的测量稳定性和精度。* 解决建议: * 选择技术适应性强的传感器:对于表面特性变化大的工件,优先考虑对表面不敏感的测量技术,如共焦色谱。如果使用电容式传感器,需确保目标导电性稳定。 * 标准化表面处理:在生产流程中,尽可能标准化工件的表面处理工艺,确保检测前表面的均匀性和一致性。 * 多传感器融合:结合使用不同原理的传感器,或采用多角度、多点测量,以提高对复杂表面特性的鲁棒性。

4. 问题:系统集成与标定复杂性* 原因与影响:高精度纳米级检测系统对安装精度要求极高,任何微小的振动、倾斜或相对位移都可能引入不可接受的误差。此外,首次系统安装或更换关键部件后,精确的系统标定过程可能耗时、复杂,并需要专业的知识和设备。* 解决建议: * 高刚性安装平台:使用经过精密设计和加工的安装支架和平台,确保传感器与工件之间具有极高的机械稳定性,并采取减振措施。 * 遵循制造商指南:严格遵循传感器制造商提供的安装、接线和标定指南,必要时寻求专业技术支持。 * 选择易用性强的产品:选择更换探头后无需重新校准的传感器,可以简化维护和调试过程。 * 自动化校准:对于大型或复杂系统,可以考虑集成自动化校准功能,减少人工干预和提升效率。

4. 应用案例分享

纳米级非接触公差验证技术在多个高精尖行业中发挥着关键作用:

  • 半导体制造:用于精确测量硅晶圆的厚度、翘曲度和平面度,以及集成电路封装件引脚的高度和共面性,确保芯片制造和封装的精度。

  • 精密机械加工:在线监测微型轴承、齿轮、精密光学模具等部件的尺寸公差、跳动和表面形貌,以保证机械系统的运行精度和寿命。

  • 新能源电池生产:在锂电池极片生产中,实时高精度测量涂布厚度均匀性和表面缺陷,这对电池性能和安全性至关重要。

  • 医疗器械制造:对微创手术器械、药物输送装置等高精度医疗部件的尺寸、形状和表面光滑度进行纳米级检测,确保其功能性和生物相容性。

  • 航空航天:在极端温度或高真空环境下,监测发动机叶片、结构件的微小变形和位移,对飞行安全和部件性能进行评估。



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