电子元件是我们现代电子设备的核心,它们就像一台复杂机器里最小、最精密的齿轮。无论是小到手机里的微型芯片,还是大到电动汽车里的功率模块,都由各种各样的电子元件组成。这些元件的结构往往非常精巧,比如一个微小的集成电路,它内部可能有成千上万个晶体管,外部则有密密麻麻的引脚或焊球。
在质量控制方面,对电子元件的检测要求极高。我们关注的不仅仅是它能不能工作,更重要的是它能否稳定、可靠地在严苛环境下长时间运行。这就要求我们必须精确地测量元件的微小尺寸、位置、形貌甚至微小的变形。想象一下,如果一个芯片的引脚稍微有点歪斜,或者一个电容器的表面不够平整,在装配时就可能导致接触不良,甚至引起短路,最终让整个产品失效。因此,对这些“微米级”甚至“亚微米级”的位移和尺寸进行非接触、高精度、高速度的测量,是确保电子元件质量的关键。
在电子元件的质量控制中,我们经常需要监测和评估一系列微小位移相关的参数,以确保产品符合设计要求。
位移量与尺寸偏差:这是最基础的检测。比如,某个元件的厚度是否符合标准,它的长度、宽度是不是在公差范围内。我们通过对比实际测量值与设计标称值,来计算出偏差。评价方法通常是设定一个上下限,所有测量值必须落在这个区间内。
表面平整度与形貌:元件的表面,尤其是功能表面,要求非常平整。比如,芯片封装的顶面或底面如果存在凸起或凹陷,可能会影响散热或后续的组装。形貌检测则能重建元件表面的三维形状,发现肉眼难以察觉的微观缺陷。这通常通过测量一系列点的Z轴高度,然后计算出最大高度差、粗糙度等参数来评价。
共面性与翘曲度:对于多引脚的器件,比如BGA或QFN封装,所有引脚的底部必须处于同一个平面(共面性),这样才能保证焊接的均匀可靠。如果元件整体发生轻微弯曲变形(翘曲),也会严重影响其功能。评价时,我们会测量所有关键点的高度,然后计算这些点相对于一个基准平面的最大垂直距离,或者拟合出最佳平面并计算其偏差。
市面上各种相关技术方案
在电子元件的质量控制中,实现微米级位移测量并减少材料影响,是传感器技术面临的重要挑战。目前市场上有多种先进的非接触式测量技术可以满足这一需求。
激光三角测量技术
激光三角测量技术,就像我们小时候用尺子量东西一样,只不过它用的是光和几何学原理。当传感器发射一束点状或线状激光到被测物体表面时,激光会在物体表面形成一个光斑。这个光斑被传感器内部的CMOS(或PSD)图像传感器从一个特定的角度接收到。
想象一下,传感器内部的激光发射器、被测物体上的光斑和图像传感器上的成像点构成了一个三角形。当被测物体发生微小位移时,激光光斑在图像传感器上的位置也会随之移动。通过精确地测量图像传感器上光斑位置的变化,并结合传感器内部预设的几何参数(比如发射器与接收器的距离、角度等),我们就可以通过三角几何关系精确地计算出物体在垂直方向(Z轴)上的位移。
其核心测量公式可以简化为:Z = f * (X / (X + f*tan(theta)))其中,Z是被测物体到传感器参考平面的距离,X是图像传感器上光斑位置的偏移量,f是接收光学系统的焦距,theta是激光发射器与接收器光轴之间的夹角。
核心性能参数的典型范围:* 精度和分辨率: 这是激光三角测量最突出的优势,通常可以达到微米甚至亚微米级别。例如,分辨率可以达到量程的0.01%甚至更低,使得10毫米量程的传感器能够分辨1微米的位移。* 测量范围: 从几毫米到几百毫米不等,覆盖了电子元件微小位移检测的绝大部分需求。* 测量频率: 高达数千赫兹甚至数十万赫兹,这意味着每秒可以进行成千上万次测量,非常适合高速在线检测。
技术方案的优缺点:* 优点: 极高的测量精度和分辨率,非接触式测量避免了对精密元件的损伤,响应速度快,可以实现高速在线检测和轮廓扫描。多波长激光选项(如蓝光、紫外光)可以更好地适应不同材料(如透明、反光或有机材料)的表面特性,有效减少材料对测量的影响。蓝光对金属表面的渗透性更小,可以获得更清晰的反射点。* 局限性: 测量结果受物体表面颜色、光泽度(反射率)和倾斜角度影响较大。极度透明或镜面反射的物体可能需要特殊处理或选择特定波长的激光。传感器安装角度和环境光线也需要仔细考虑。* 成本考量: 中高端产品价格较高,但考虑到其带来的高效率和高精度,对于追求极致质量控制的电子制造行业来说,通常是值得的投资。
激光飞行时间(ToF)技术
激光飞行时间技术,顾名思义,就像我们通过听到回声来判断距离一样。传感器发射一个短暂的激光脉冲,这个脉冲遇到物体后会反射回来,传感器接收反射回来的光。通过精确测量激光脉冲从发射到接收之间的时间差(飞行时间),并结合光速,就能计算出传感器到物体的距离。
其基本原理公式为:距离 (D) = 光速 (c) * 时间差 (Δt) / 2其中,c 是光速,Δt 是激光的飞行时间。
核心性能参数的典型范围:* 测量范围: 广泛,从几十厘米到几十米甚至上百米。* 精度和重复精度: 通常在毫米到厘米级别,重复精度可以达到几毫米,但对于微米级位移测量来说,其绝对精度不如激光三角测量。* 扫描频率: 常见于几十到几百赫兹,例如100 Hz。
技术方案的优缺点:* 优点: 测量距离远,适用于大范围的物体检测和区域扫描,对物体表面特性(颜色、光泽度)的敏感度相对较低,抗环境光干扰能力较强。* 局限性: 精度和分辨率相对有限,通常难以达到微米级,因此不适用于电子元件的精密微小位移测量。主要用于中长距离的定位、避障和轮廓描绘。* 成本考量: 工业级产品价格中等偏高,但相比超高精度传感器,其性价比在大范围应用中更具优势。
机器视觉(深度学习)技术
机器视觉,就好比给生产线安装了一双“慧眼”,并且这双眼睛还经过了深度学习的训练,变得非常聪明。它通过高分辨率相机获取被测物体的图像,然后利用复杂的深度学习算法对图像进行分析。系统不是简单地测量距离,而是通过识别图像中的模式、特征、缺陷,来判断物体的位置、尺寸、形状,甚至识别出传统方法难以发现的复杂缺陷。
核心性能参数的典型范围:* 图像传感器: 最高可达数百万像素,提供丰富的图像细节。* 处理速度: 取决于算法复杂度和硬件性能,可以达到每秒数千次检测。* 测量精度: 通过图像处理和亚像素定位算法,可以达到亚像素级别的测量精度,对于微小尺寸和位移的检测,通过高倍率光学系统可以实现微米级甚至更小的分辨率。
技术方案的优缺点:* 优点: 极高的灵活性和智能化程度,能够处理传统传感器难以应对的复杂检测任务,例如识别不规则形状缺陷、字符识别、多特征综合判断等。对于材料影响,它通过训练可以学习不同表面特性的表现,但对光学照明和成像质量要求很高。* 局限性: 需要大量的图像数据进行模型训练,训练过程复杂耗时。实时性可能不如激光传感器,特别是对于高速运动的物体。系统的稳定性和鲁棒性依赖于训练数据的质量和环境的一致性。* 成本考量: 软硬件投资较高,尤其是初期模型开发和部署的成本。
市场主流品牌/产品对比
在微米级精密测量领域,有几家国际知名的品牌提供了各自的创新解决方案。
日本基恩士以其超高速高精度激光轮廓测量仪闻名,该品牌主要采用激光三角测量技术。他们的LJ-X8000系列产品,能够实现Z轴重复精度可达亚微米级别,采样速度高达 164 kHz,能一次性获取3200个轮廓点。这意味着在检测电子元件的表面形貌、引脚共面性时,它能提供极其精细和快速的三维数据。其蓝色半导体激光源对于多种材料,特别是反光金属表面,具有良好的适应性。日本基恩士的产品以一体化设计和简便操作著称,广泛应用于精密机械和电子元器件的在线全检。
英国真尚有的ZLDS103激光位移传感器同样采用了激光三角测量原理。这款传感器以其小巧的体积(45x30.5x17mm)脱颖而出,非常适合空间受限的场合。它能提供高达0.01%的分辨率和±0.05%的线性度,测量频率高达9400Hz,确保高速测量时也能保持高精度。该型号还提供蓝光或UV半导体激光器选项,这对于测量高温物体或对红色激光吸收、反射不佳的有机材料非常有利,有效减少了材料对测量的影响。
加拿大北陆视觉也专注于激光三角测量技术,其Gocator 2500系列是高速3D智能线激光传感器。它集成了数据采集、3D重建和测量分析功能于一体,无需外部PC即可完成复杂的检测任务。Gocator 2500系列可以提供亚微米级的Z轴重复精度,扫描速率最高可达10 kHz,对电子元件如电池、PCB板的在线全尺寸检测提供了强大的支持。其一体化智能传感器的特点,使得部署和集成更为便捷。
德国西克则以激光飞行时间(ToF)技术为其核心,代表产品如SICK LMS511 PRO 2D激光扫描仪。这款传感器主要用于中长距离的测量,测量范围可达0.5米至80米,重复精度在毫米级别。虽然其精度无法达到微米级别,但在大范围的物体检测、区域防护、物流和港口自动化等领域具有领先优势。它通过测量激光脉冲的飞行时间来确定距离,对物体颜色和环境光线不敏感,防护等级达到IP67,具备工业级的坚固耐用性。
选择设备/传感器时需要重点关注的技术指标及选型建议
选择合适的传感器,就像为你的精密制造产线挑选一把合适的“手术刀”,需要根据具体需求仔细考量。
分辨率:这是指传感器能分辨出的最小位移量。对于电子元件的微米级位移测量,分辨率是首要指标。如果一个传感器只能分辨0.1毫米的位移,那它肯定无法满足0.001毫米(1微米)的检测要求。因此,应选择分辨率标称值小于或等于所需最小检测尺寸的传感器。
精度与线性度:精度代表测量结果与真实值之间的接近程度,线性度则反映了传感器在整个测量范围内输出与输入之间的比例关系是否一致。高精度和优秀的线性度意味着你的测量数据更可靠、更稳定。在选择时,要确保传感器的精度和线性度满足产品公差要求,通常要求精度远高于公差。
测量范围:传感器能测量的距离区间。这需要根据被测元件与传感器之间的实际工作距离,以及元件可能发生的位移量来确定。例如,如果元件在某个方向上的最大位移是50mm,那么你需要一个量程至少覆盖50mm的传感器。
测量频率(响应时间):传感器每秒能完成多少次测量。在高速生产线上,如果测量频率不够快,传感器可能无法捕捉到所有通过的元件或者无法在元件移动过程中进行足够密集的采样。通常,测量频率越高,越能适应高速检测需求。
光斑大小(或线宽):激光光斑或线激光的宽度,决定了传感器能检测到的最小细节尺寸。光斑越小,越能捕捉到微小的特征和缺陷,但同时可能会对表面粗糙度更敏感。
光源波长:不同的激光波长对不同材料的吸收和反射特性不同。例如,红色激光在测量某些有机材料(如深色PCB板)或高温物体时,可能会产生较大的误差。采用其他波长的激光器,如蓝光或紫外光,在测量这些材料时效果会更好,因为它们具有更短的波长和更高的能量,能穿透表层噪声,减少材料影响。
材料影响:这是确保微米级分辨率并减少材料影响的关键。
表面反射率:镜面反射会导致激光束散射或无法被接收器有效接收。
颜色:深色表面吸收激光多,反射弱;浅色表面反射强。
透明度:激光可能穿透透明材料,导致测量到其后方。
应对策略:选用多波长激光传感器,或调整传感器角度、利用偏振滤光片、甚至对特定表面进行亚光处理(如果允许)来改善测量效果。有些传感器内置了自动曝光或信号强度调节功能来适应不同表面。
成本考量:综合考虑传感器的购置、安装、维护以及后续的系统集成成本,选择在满足性能要求前提下的高性价比方案。
选型建议:
对于极致的微米甚至亚微米级精度需求:首选激光三角测量传感器,特别是带有多种波长选项(蓝光/UV)的产品,以应对不同材料表面的挑战。
对于需要同时获取三维轮廓和尺寸信息:选择线激光轮廓传感器,它能提供物体的完整三维形貌数据。
对于复杂缺陷识别和无明确几何特征的检测:考虑机器视觉结合深度学习的方案,它能通过训练学习各种复杂情况。
对于中长距离、精度要求不那么严格的定位:激光飞行时间传感器是更好的选择。
实际应用中可能遇到的问题和相应解决建议
在电子元件的质量控制中,即使选择了高性能的传感器,实际应用中仍然可能遇到一些挑战。
表面特性复杂导致测量不稳定
原因分析:电子元件材料多样,表面可能高度反光(如镀金引脚、金属封装),也可能高度吸光(如黑色塑封、某些PCB表面),或存在透明层(如玻璃基板、透明涂层)。这些特性会导致激光信号过强、过弱或穿透,影响光斑的形成和图像传感器的准确捕获。
解决建议:
多波长激光选择:例如选择可提供蓝光或紫外激光的传感器。蓝光在金属表面有更好的反射特性,紫外光则能有效测量某些有机或透明材料。
调整传感器角度:对于镜面反射,轻微倾斜传感器角度,将反射光引导至接收器,避免镜面反射的“盲区”。
调整激光功率与增益:通过软件调整激光发射功率或接收器增益,优化光斑亮度,适应不同表面。
表面预处理:在不影响元件功能的前提下,对测量区域进行亚光处理或喷涂一层极薄的散射介质,以增加漫反射(但通常不适用于精密电子元件)。
环境因素干扰测量结果
原因分析:生产现场可能存在温度变化、振动、灰尘、油雾甚至强环境光等。温度变化可能导致传感器内部元器件漂移;振动会引起被测物体和传感器的相对位移;灰尘和油雾会污染光学窗口,降低信号质量;强环境光会干扰激光信号的识别。
解决建议:
选择高防护等级传感器:IP67或更高防护等级的传感器能有效防止灰尘和水的侵入。
稳定安装与减震:将传感器安装在坚固的支架上,远离振动源,或使用减震装置。
温度补偿功能:部分高端传感器具有内置温度补偿算法,能校正温度变化带来的误差。
定期清洁:定期检查并清洁传感器光学窗口,确保光路通畅。
避光或滤光:在传感器附近设置遮光罩,或使用带滤光片功能的传感器,以减少环境光干扰。
高速运动中数据一致性差
原因分析:在高速生产线上,如果测量频率不够高,或者数据处理速度跟不上,会导致采样点不足,或相邻测量结果之间出现较大波动,影响数据的一致性和可靠性。
解决建议:
选择高测量频率的传感器:确保传感器具备足够高的采样率来捕捉高速运动中的细节。
优化数据处理算法:在后端软件中采用数据平滑、滤波或插值算法,减少高速运动带来的瞬时波动。
同步触发:确保传感器与生产线运动部件(如编码器)实现精确同步触发,保证每次测量都在固定位置进行。
校准困难导致误差累积
原因分析:传感器在使用一段时间后,由于磨损、温度变化或机械应力等因素,可能会出现测量误差,需要定期校准。如果校准方法不规范或缺少高精度标准件,就可能导致误差累积。
解决建议:
建立标准校准流程:使用高精度、可溯源的量块或标准平面进行定期校准。
自动化校准系统:集成自动化校准工位,减少人工干预和操作误差。
多点校准:不仅校准零点,还要在整个测量范围内进行多点校准,以确保线性度。
PCB板共面性与翘曲度检测:在表面贴装技术(SMT)中,激光位移传感器可以高速扫描印刷电路板(PCB)的焊盘区域,精确测量焊盘的高度一致性,以及PCB板整体的翘曲变形情况,确保后续元件焊接的良率。例如,英国真尚有的ZLDS103激光位移传感器,凭借其紧凑的体积和高精度,能够有效应用于此类场景。
芯片封装高度与引脚平整度检测:对于BGA、QFN等精密芯片封装,激光位移传感器能够非接触式地测量封装本体的高度、引脚或焊球的共面性。这有助于发现因生产工艺问题导致的封装过厚、引脚弯曲或焊球不均匀等缺陷。
连接器插针定位与尺寸测量:在连接器生产过程中,激光位移传感器可以高精度地检测连接器插针的位置、间距和高度,确保每个插针都准确无误地定位,避免装配错误和功能失效。
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