EVCD10光谱共焦位移传感器通过高品质光学镜头沿着光轴在不同距离而非单个点上聚焦白光，所有的可见光波段都在焦点上。这种多功能的光学传感器为测量技术开辟了新的维度。可达到0.02%FS的线性度。
EVCD10光谱共焦位移传感器是基于色散共聚焦原理来测量位移或厚度的仪器，控制器通过一根专用光纤和测量头连接。接入电源为24V DC，通过以太网接口进行数据输出。其编码器接口可 以外接3路增量式单端光电编码器信号，使各位置数据和测量数据一一对应。同时可以与外部触发信号同步，也可以输出触发信号同步其它设备。
EVCD10光谱共焦位移传感器的控制器主要进行光谱信号采集、处理、计算，通过以太网接口将数据传输给PC。探头是完全无源的，没有包含热源和移动部件；将探头连接到控制器上的光缆最长可以定做到10m。
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EVCD10 10nm光谱共焦位移传感器特点：
（1）、超高精度（±0.02% F.S.）和分辨率（最高2nm）
（2）、光斑更小（最小2um)
（3）、测量值无平均化处理
（4）、超高稳定性,透明物体,镜面物体,高光亮金属均可以检测
（5）、超强厚度测量能力,可同时输出多层厚度及位移值
（6）、具有超大角度测头LHP4-Fc,角度特性±45°
（7）、专门针对自动化应用提供丰富的通讯接口
（8）、提供使用所需配件,DC 24V 3A电源,以太网连接线,IO触发线
（9）、创新技术,彩色光谱共焦：突破常规LED光源亮度分布不均匀局限，全量程精度更高，稳定性更强。半峰宽比常规型小1/2以上， 采样精度是常规性型1.33倍。
（10）、可直接测量玻璃或半透明物体厚度
EVCD10 10nm光谱共焦位移传感器应用领域：
可用于透明，半透明物体测厚，高精度距离、厚度检测
EVCD10 10nm光谱共焦位移传感器技术规格：
EVCD10 10nm光谱共焦位移传感器测量原理：
白光光源①发出白光，经过光纤分路器③进入光纤传导，再通过针孔④白光到达色散物镜⑤，在被测物一侧产生色散，由于波长不同，只有焦点在被测表面上的光才能被反射透过针孔④， 进入针孔④后方的光谱分析仪②。焦点在被测表面上的光波长在光谱分析仪中体现为峰值，由光谱仪的光谱分布可以判断被测物体的高度。
EVCD10 10nm光谱共焦位移传感器应用领域：
可用于透明，半透明物体测厚，高精度距离、厚度检测
EVCD10 10nm光谱共焦位移传感器应用领域：
可用于透明，半透明物体测厚，高精度距离、厚度检测
EVCD10 10nm光谱共焦位移传感器安装尺寸：
英国真尚有_光谱共焦线扫描传感器 | SCE(WL)-2D
SCE(WL)-2D光谱共焦线扫描传感器能提供每秒384,000点的超快3D测量，并伴随纳米级的分辨率。得益于稳健与高集成度的设计，SCE(WL)-2D能够方便地集成入生产线上的检验设备，并能胜任于严酷的工业生产环境。传感器的高动态反应和接触的信噪比使其能应用于所有材料包括抛光和严重倾斜的表面。SCE(WL)-2D无与伦比的性价比无疑是超高速3D检测的首选。
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英国真尚有_光谱共焦传感器 | SCE(IR)-HR-C1
SCE(IR)-HR-C1光谱共焦传感器完美适用于非接触式测量轮廓和层厚度。 该传感器采用了两种不同的测量方法，可以进行 30 µm 至 1200 mm 的厚度测量，距离测量的横向分辨率在次微米范围内。 高强度光源和不同寻常的高动态性能可通过卓越的信噪比确保具有不同反射强度和倾斜度的表面上最佳的测量结果。
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英国真尚有_光学传感器 | 共焦传感器 | SCE(IR)-WF1-C1
SCE(IR)-WF1-C1 光学传感器配合红外线灯光进行工作，专门针对纤薄晶片的非接触式厚度测量进行了优化。 其它应用领域包括不透明材料的厚度测量，以及透明塑料薄膜的厚度测量。 借助干扰测试测量方法可以从一面进行高分辨率的稳定可靠的测量。 SCE系列传感器不同寻常的高动态性能和卓越的信噪比可确保最佳的测量结果。
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