SCE(IR)-PRS-C2-1000共焦传感器提供了高达每秒66,000此的测量速度。伴随着内置LED光源使其成为非接触表面形貌和厚度测量的最佳传感器。SCE系列传感器的杰出的动态反应和高信噪比可确保在不同反射率的表面及不同测量角度下都能得到最好的测量结果。传感器还可以在光谱共焦和光干涉模式中切换,能普遍适用于产线上的质量监控。
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SCE(IR)-PRS-C2-1000共焦传感器特点:
极高测量速度;
图形化显示器;
距离和形貌;
宽泛的厚度测量范围;
适用于所有表面;
适用于在线和离线;
便于集成和操作;
无易损部件;
非接触式测量;
SCE(IR)-PRS-C2-1000共焦传感器应用领域:
SCE系列传感器利用多种先进的技术来实现快速距离和厚度测量。 传感器采用的光谱共焦(Chromatic confocal)和光干涉 (Interferometric)原理使其可以对几乎任何表面做测量,另外不同种类的白光和红外光源方便了传感器测量多种材料。在光伏设备、玻璃行业、半导体行业、医学、塑料盒坐标测量技术上得到了的广泛的应用和认可。
SCE(IR)-PRS-C2-1000共焦传感器技术规格:
SCE(IR)-PRS-C2-1000共焦传感器测量原理:
白光光源①发出白光,经过光纤分路器③进入光纤传导,再通过针孔④白光到达色散物镜⑤,在被测物一侧产生色散,由于波长不同,只有焦点在被测表面上的光才能被反射透过针孔④, 进入针孔④后方的光谱分析仪②。焦点在被测表面上的光波长在光谱分析仪中体现为峰值,由光谱仪的光谱分布可以判断被测物体的高度。
SCE(IR)-PRS-C2-1000共焦传感器应用领域:
SCE系列传感器利用多种先进的技术来实现快速距离和厚度测量。 传感器采用的光谱共焦(Chromatic confocal)和光干涉 (Interferometric)原理使其可以对几乎任何表面做测量,另外不同种类的白光和红外光源方便了传感器测量多种材料。在光伏设备、玻璃行业、半导体行业、医学、塑料盒坐标测量技术上得到了的广泛的应用和认可。
SCE(IR)-PRS-C2-1000共焦传感器应用领域:
SCE系列传感器利用多种先进的技术来实现快速距离和厚度测量。 传感器采用的光谱共焦(Chromatic confocal)和光干涉 (Interferometric)原理使其可以对几乎任何表面做测量,另外不同种类的白光和红外光源方便了传感器测量多种材料。在光伏设备、玻璃行业、半导体行业、医学、塑料盒坐标测量技术上得到了的广泛的应用和认可。
英国真尚有_光谱共焦线扫描传感器 | SCE(WL)-2D
SCE(WL)-2D光谱共焦线扫描传感器能提供每秒384,000点的超快3D测量,并伴随纳米级的分辨率。得益于稳健与高集成度的设计,SCE(WL)-2D能够方便地集成入生产线上的检验设备,并能胜任于严酷的工业生产环境。传感器的高动态反应和接触的信噪比使其能应用于所有材料包括抛光和严重倾斜的表面。SCE(WL)-2D无与伦比的性价比无疑是超高速3D检测的首选。
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英国真尚有_光谱共焦传感器 | SCE(IR)-HR-C1
SCE(IR)-HR-C1光谱共焦传感器完美适用于非接触式测量轮廓和层厚度。 该传感器采用了两种不同的测量方法,可以进行 30 µm 至 1200 mm 的厚度测量,距离测量的横向分辨率在次微米范围内。 高强度光源和不同寻常的高动态性能可通过卓越的信噪比确保具有不同反射强度和倾斜度的表面上最佳的测量结果。
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英国真尚有_10nm光谱共焦位移传感器 | 10um光斑 ±0.02%线性度 | EVCD10
EVCD10光谱共焦位移传感器通过高品质光学镜头沿着光轴在不同距离而非单个点上聚焦白光,所有的可见光波段都在焦点上。这种多功能的光学传感器为测量技术开辟了新的维度。可达到0.02%FS的线性度。
EVCD10光谱共焦位移传感器是基于色散共聚焦原理来测量位移或厚度的仪器,控制器通过一根专用光纤和测量头连接。接入电源为24V DC,通过以太网接口进行数据输出。其编码器接口可 以外接3路增量式单端光电编码器信号,使各位置数据和测量数据一一对应。同时可以与外部触发信号同步,也可以输出触发信号同步其它设备。
EVCD10光谱共焦位移传感器的控制器主要进行光谱信号采集、处理、计算,通过以太网接口将数据传输给PC。探头是完全无源的,没有包含热源和移动部件;将探头连接到控制器上的光缆最长可以定做到10m。
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