金属带材轧制生产线如何实现±1微米级高精度厚度在线测量，并应对高速、复杂环境挑战？【非接触式测厚方案】

第1部分：金属带材的基本结构与技术要求

金属带材，可以想象成工厂里那种长长的、像卷尺一样连续的金属片。它们在被生产出来之后，会经过一系列的加工，比如轧制、切割、冲压等等，最终成为我们日常生活中各种金属产品的原材料，比如汽车外壳、电器元件、建筑材料等等。

对于这些“金属长卷”，最重要的一个指标就是它的厚度。就像制作一张饼干，如果面团厚度不均匀，有的地方厚有的地方薄，那么烤出来的饼干就可能有的焦了有的没熟，口感和品质都会大打折扣。金属带材也是一样，厚度哪怕只有微小的偏差，都可能导致以下严重问题：

• 产品质量不合格：太厚或太薄都会影响最终产品的性能、强度和外观，造成废品率升高。

• 后续加工困难：厚度不均的带材在后续的冲压、折弯、焊接等工序中，可能导致设备磨损加剧、加工效率降低，甚至造成设备损坏或生产线停机。

• 成本增加：不合格的产品需要报废，原材料和能源投入就浪费了。

因此，在高效率生产线上，实时、高精度地测量金属带材的厚度，并将其控制在严格的公差范围内，是保证产品质量、优化生产成本和提升生产效率的关键。

第2部分：针对金属带材的相关技术标准简介

在金属带材的生产和质量控制中，有几个核心的监测参数是行业关注的焦点，它们定义了带材的“好坏”标准。

• 公称厚度（Nominal Thickness）：这就是我们常说的“标准厚度”或者“设计厚度”。比如，我们说要生产0.5毫米厚的钢带，这个0.5毫米就是公称厚度。所有的测量和控制，都是围绕这个公称厚度展开的。

• 厚度偏差（Thickness Deviation）：也叫厚度误差，指的是实际测量的厚度与公称厚度之间的差异。比如，实际测到0.51毫米，那么偏差就是+0.01毫米。这个偏差越小越好。

• 厚度公差（Thickness Tolerance）：这是一个允许的厚度偏差范围。就像我们买东西，商家会告诉你允许的误差范围一样。公差通常表示为“公称厚度 ± 一个数值”，例如0.5mm ± 0.02mm，意味着实际厚度只要在0.48mm到0.52mm之间就算合格。超出这个范围，产品就是不合格的。

• 厚度均匀性（Thickness Uniformity）：这不仅仅是某一点的厚度是否合格，更是指整个带材在长度方向和宽度方向上厚度变化的平稳程度。想象一下，一条笔直的公路，如果路面高低起伏不平，开车体验就很差。同样，金属带材如果厚度忽高忽低，也会严重影响其使用。评价厚度均匀性通常需要进行多点测量或连续扫描，分析厚度变化的波动范围和频率。

这些参数的评价方法，通常是在生产线上通过非接触式传感器进行实时连续测量，然后将测量数据与预设的公差范围进行比较，生成厚度曲线图，并通过统计学方法（如Cpk、PpK等过程能力指数）来评估生产过程的稳定性和产品质量水平。合格与否，就看这些实时数据是否能一直落在公差范围内，以及整体的均匀性表现如何。

第3部分：实时监测/检测技术方法

为了在高精度测量金属带材厚度的同时，保证生产线的效率和稳定性，市面上涌现出多种非接触式测量技术。每种技术都有其独特的工作原理、优缺点和适用场景。

1. 市面上各种相关技术方案

• 激光三角测量法

工作原理与物理基础：想象一个直角三角形，传感器发射激光点A，被测物表面点B，图像传感器接收点C。当物体移动时，点B变化到B'，那么C点也会变化到C'。通过几何光学原理，可以建立一个数学模型来计算距离。

其核心原理基于几何三角关系：假设激光器与接收器中心之间的距离为基线L，激光发射角度为α，接收器光路角度为β。当光斑落在图像传感器上的位置发生变化Δx时，对应的被测物表面距离变化Δh可以推导得出。简化公式通常表示为：H = L * sin(θ) / sin(φ)其中，H是被测物到传感器的距离，L是发射器到接收器的基准距离，θ是激光发射角度，φ是反射光线被接收的角度。在实际应用中，由于光斑在图像传感器上的位置变化是与距离成非线性关系的，因此通常会通过复杂的算法和校准来线性化输出。

对于金属带材的厚度测量，通常采用双传感器配置，即在带材的上下方各放置一个激光三角位移传感器，分别测量带材上表面和下表面到各自参考点的距离。假设上传感器测得的距离是H_upper，下传感器测得的距离是H_lower，而两个传感器之间有一个已知的机械基准距离K（或称为传感器间距）。那么，金属带材的厚度T就可以通过以下公式计算：T = K - (H_upper + H_lower) 或者 T = H_upper_ref - H_upper - (H_lower_ref - H_lower)这里的H_upper_ref和H_lower_ref是无带材时的参考距离。这个方法巧妙地抵消了带材整体跳动对测厚的影响，只关注上下表面的相对距离差。

核心性能参数的典型范围：

• 测量范围：从几毫米到数百毫米甚至上千毫米。

• 分辨率：可达满量程的0.01%甚至更高，达到微米级别。

• 精度：一般为±0.03% F.S.，高端型号优于±1µm。

• 采样速度：从几KHz到高达数十KHz，足以应对高速生产线。

• 光斑大小：从小于0.06mm到大于1mm，可根据应用调整。

技术方案的优缺点：

• 优点：

  • 非接触式：对金属带材无任何磨损或损伤。

  • 高速度：较高的采样频率能捕捉高速运动带材的瞬时厚度变化。

  • 高精度：能够达到微米级的测量精度。

  • 适用性广：适用于大多数漫反射金属表面，即使表面有轻微油污或颜色变化，通过算法优化和光源选择也能稳定测量。

  • 不受电磁干扰：与X射线、电容式等技术相比，抗电磁干扰能力强。

• 局限性：

  • 对表面特性敏感：当被测物表面过于镜面反射或有强烈反光时，可能需要特殊的光学处理或调整安装角度。表面粗糙度、颜色、温度变化会轻微影响测量精度，但高端产品已通过算法和硬件优化大大降低了影响。

  • 测量范围受限：单个传感器量程有限，对于极厚的带材需要选择更大测量范围的传感器。

  • 环境影响：重度粉尘、水汽或强烈外部光源（如太阳直射光）可能干扰测量，需要采取防护措施。

• 成本考量：中等偏高，一套高精度双传感器的激光测厚系统，初期投入相对较高，但长期运行维护成本较低。

• 辐射透射测量法（X射线/同位素射线）

这种方法就像给金属带材做“透视”检查。它利用X射线或同位素射线穿透金属带材，由于射线在穿透不同厚度的材料时能量衰减程度不同，通过测量穿透后的射线强度变化，就能反推出带材的厚度。

工作原理与物理基础：X射线或同位素射线在穿透物质时，其强度会因物质的吸收而衰减。衰减的程度与物质的厚度、密度和吸收系数有关。这个关系可以用Beer-Lambert定律来描述：I = I0 * exp(-μ * ρ * t)其中：* I0：入射射线强度（未穿透带材前的强度）。* I：穿透带材后的射线强度。* μ：质量衰减系数（取决于材料成分和射线能量）。* ρ：材料密度。* t：被测材料厚度。通过测量I0和I，并在已知μ和ρ的情况下，就可以精确计算出t。

核心性能参数的典型范围：

• 测量范围：0.005毫米至30毫米，适用于从极薄到较厚的金属带材。

• 测量精度：可达±0.01%或±0.5µm。

• 响应时间：通常小于10毫秒。

• 扫描速度：适应高达1200米/分钟的带材速度。

技术方案的优缺点：

• 优点：

  • 极高精度和稳定性：在宽厚度范围内都能提供卓越的测量精度。

  • 穿透性强：能够穿透各种金属材料，不受表面状况（如颜色、油污、粗糙度）的影响。

  • 非接触式：对带材无损伤。

  • 适用于高速生产线：响应速度快，能满足高速轧制需求。

• 局限性：

  • 辐射源安全性：需要严格的辐射防护措施和操作规范，维护成本和法规要求高。

  • 对材料成分和密度敏感：不同合金或密度变化会影响测量结果，需要预设参数或进行在线校准。

  • 初期投入高：设备成本通常较高。

• 成本考量：初期投入和维护成本均非常高，主要应用于大型钢铁、有色金属轧制企业。

• 电容式测量法

电容式测量法利用电场原理来测量距离。它通过感应金属带材与传感器电极之间形成的电容变化，来推算带材的厚度。

工作原理与物理基础：两个平行的电极之间会形成一个电容，其电容值C与电极的面积A、电极间的距离d以及电极间介质的介电常数ε有关。C = ε * A / d当金属带材通过两个电极之间时，带材与电极之间会形成空气间隙，电容值随之改变。通过高频电场精确测量这个电容的变化，可以计算出带材与电极的距离，进而通过差分测量（上下各一个传感器）得到带材厚度。

核心性能参数的典型范围：

• 测量范围：0.01毫米至10毫米，尤其擅长测量超薄带材。

• 分辨率：优于0.1µm。

• 测量精度：±0.5µm或更高。

• 测量频率：高达10KHz。

技术方案的优缺点：

• 优点：

  • 超高精度：在测量薄带材方面表现出色，可达到纳米级分辨率。

  • 非接触式：对带材无损伤。

  • 结构紧凑，响应速度快：适合集成到对空间有要求的生产线。

  • 适用于非铁磁性金属：特别适合铝、铜、黄铜、不锈钢等材料。

• 局限性：

  • 仅适用于非铁磁性金属：不能用于铁磁性材料。

  • 测量范围较小：通常只能测量较薄的带材。

  • 对环境敏感：测量精度易受环境温度、湿度（影响空气介电常数）、电磁干扰等因素影响。

  • 测量距离短：传感器与带材之间需要保持非常小的距离，对安装和带材平稳性要求高。

• 成本考量：中等偏高，在特定应用领域（如超薄有色金属带材）是最佳选择。

• 光学扫描/线阵扫描测量法

光学扫描测量法（也常被称为光学测微仪或视觉测量）通过高精度的光学系统发射平行光束，利用线阵CMOS图像传感器来捕捉被测物体边缘对光线的遮挡，从而精确计算尺寸。

工作原理与物理基础：系统发射一道平行光，被测带材在其光路中移动。带材的上下边缘会遮挡一部分光线，在接收端的光学传感器（如CMOS线阵传感器）上形成一个阴影。通过精确检测传感器上光线明暗变化的像素位置，就可以确定带材的几何尺寸。对于厚度测量，通常配置两个光学测微仪相对放置，分别测量带材的上下边缘，然后通过几何关系计算出厚度。这个过程可以理解为：当光线照射到物体边缘时，会在光电传感器上形成一个清晰的“投影”。通过计算这个投影的宽度或者位置，就可以推算出物体的尺寸。

核心性能参数的典型范围：

• 重复精度：在最佳条件下可达±0.15µm。

• 线性度：±0.1% F.S.

• 测量速度：高达10KHz。

• 最小可检测尺寸：0.1µm。

技术方案的优缺点：

• 优点：

  • 超高精度与重复性：能够达到极高的尺寸测量精度，尤其在微小尺寸变化检测上表现出色。

  • 非接触式：对带材无损伤。

  • 对表面特性不敏感：测量原理依赖于边缘遮挡，对带材表面颜色、材质、粗糙度等变化不敏感。

  • 多参数测量：除了厚度，还可以同时测量宽度、边缘形状等多种尺寸参数。

  • 操作简便：一些先进系统具有自动追焦和校准功能。

• 局限性：

  • 对视野范围有要求：通常对被测物体的尺寸有一定的视野限制。

  • 不适用于内部缺陷检测：主要测量外部几何尺寸，无法检测内部结构。

  • 对安装和对中要求高：需要精确对准被测边缘，以确保测量准确性。

• 成本考量：中等偏高，适用于对尺寸精度要求极高，且需要多参数测量的应用。

2. 市场主流品牌/产品对比

这里我们挑选一些在金属带材测厚领域具有代表性的主流品牌进行比较，涵盖了不同技术路线。

• 德国赛德克

  • 采用技术：X射线透射测量法。

  • 核心性能参数：测量范围0.05 mm - 30 mm；测量精度±0.05% 或 ±0.5 µm (取较大值)；响应时间小于 10 ms；扫描速度适应高达 1200 m/min 的带材速度；长期稳定性±0.01% 或 ±0.1 µm。

  • 应用特点和独特优势：德国赛德克是全球轧钢行业在线测厚解决方案的领导者之一，其X射线测厚仪以极高的测量精度和稳定性著称。它能穿透各种金属材料，包括热轧和冷轧带材，对带材表面状况不敏感。自动化程度高，可无缝集成到轧机控制系统，实现闭环控制，是钢铁行业厚度控制的首选方案。

• 英国真尚有

  • 采用技术：激光三角测量法（通过双传感器配置实现厚度测量）。

  • 核心性能参数：单个传感器采样速度高达70KHz（部分版本）；分辨率0.01%；线性度最高0.03%；量程可达1000 mm；光斑大小多样（小于0.06mm到大于1mm）。

  • 应用特点和独特优势：英国真尚有的ZLDS100Rd系列激光位移传感器以其高采样速度和高分辨率在高精度测量领域表现出色。在金属带材测厚应用中，通过配置两台传感器进行差分测量，可以实现高速、高精度的厚度监测。该系列传感器具有多种输出功率和多种量程中点可供选择，输出接口支持RS422或RS485。它具备出色的环境适应性，能够抵抗动态变化的路面颜色、抗太阳强光辐射，并能在潮湿等复杂环境下稳定测量，这意味着在金属带材生产线常见的油污、水汽和光线变化环境下也能保持较好的性能。多种光斑大小可选，使其能适应不同表面粗糙度和测量精度的需求。

• 美国艾德希

  • 采用技术：同位素射线透射测量法。

  • 核心性能参数：测量范围0.005 mm - 25 mm；测量精度优于±0.1% 或 ±1 µm；扫描速度可达 500 m/min；出色的零点和校准稳定性。

  • 应用特点和独特优势：美国艾德希是同位素测厚领域的知名品牌，其产品在全球金属加工行业有广泛应用。该技术特别适合薄带材的高精度测量，长期运行稳定可靠，维护需求相对较低。对材料成分变化的敏感度较低，在多种金属材料的生产中表现优异。

• 德国迈可罗

  • 采用技术：激光三角测量法（双传感器系统）。

  • 核心性能参数：测量范围0.05 mm - 20 mm；分辨率高达0.1 µm；精度±1 µm 或更好；测量速度高达 4 kHz (每个传感器)。

  • 应用特点和独特优势：德国迈可罗的测厚系统同样采用激光三角测量法，以其高精度和对表面质量（包括油污和水汽）的鲁棒性而闻名。其模块化传感器设计使其能够灵活适应不同宽度和厚度的带材测量需求。特别适用于薄带材和对表面质量要求较高的材料。

• 日本基恩士

  • 采用技术：光学扫描/线阵扫描测量法（光学测微仪）。

  • 核心性能参数：重复精度±0.15 µm；线性度±0.1% F.S.；测量速度高达 10 kHz；最小可检测尺寸0.1 µm。

  • 应用特点和独特优势：日本基恩士的TM-X5000系列以其超高精度和快速测量能力在尺寸检测领域独树一帜。它通过精确检测带材边缘，实现对厚度、宽度等多种尺寸参数的精确测量。操作简便，无需频繁校准即可自动追焦，是需要同时测量多个几何参数且对精度要求极高的应用场景的理想选择。

3. 选择设备/传感器时需要重点关注的技术指标及选型建议

选择合适的非接触式测厚传感器，就像为一场赛跑挑选最适合的跑鞋，需要综合考虑多个关键指标。

• 关键技术指标及其意义

• 测量范围（Measurement Range）：指的是传感器能测量的最大和最小距离/厚度。

  • 实际意义：它决定了传感器能覆盖的带材厚度变化范围。如果测量范围太小，遇到超出范围的厚度就测不了；如果太大，可能牺牲精度。

  • 影响：直接影响系统的适用性和灵活性。

• 分辨率（Resolution）：指传感器能够检测到的最小厚度变化量。

  • 实际意义：它代表了传感器区分细微厚度差异的能力。比如0.01%分辨率意味着在1mm的厚度下，能分辨0.0001mm的厚度变化。

  • 影响：直接影响测量的精细程度。分辨率越高，越能捕捉到微小的厚度波动，对过程控制越有利。

• 精度（Accuracy）：指测量结果与真实值之间的接近程度。

  • 实际意义：是衡量测量系统可靠性的核心指标。它包括了线性度、重复性等多种误差的综合表现。

  • 影响：直接决定了你测到的厚度值有多“真”。精度不高，即使有高分辨率，测出来的也是“不准的细微变化”。

• 重复性（Repeatability）：在相同条件下，多次测量同一厚度所得结果的一致性。

  • 实际意义：反映了传感器自身在短期内的稳定性。

  • 影响：重复性差会导致测量值跳动大，难以准确判断厚度趋势。

• 采样速度（Sampling Rate/Speed）：指传感器每秒钟能完成多少次测量。

  • 实际意义：对于高速运动的金属带材，采样速度越高，就能捕捉到更多的瞬时厚度数据点，从而更全面地了解厚度分布。

  • 影响：低采样速度可能漏掉高速运行带材上的瞬间厚度波动，导致控制滞后。

• 线性度（Linearity）：指传感器在整个测量范围内，输出信号与实际厚度变化之间的线性关系。

  • 实际意义：如果线性度差，测量值在不同厚度点上会存在系统性偏差，需要复杂的校准来修正。

  • 影响：直接影响传感器在整个量程内的准确性。

• 光斑大小（Light Spot Size）：激光传感器发出的激光束在被测物表面的大小。

  • 实际意义：光斑越小，测量到的区域越精细，可以检测更小的缺陷或表面细节。光斑越大，则对表面粗糙度或微小油污的平均效应越好，但细节分辨力下降。

  • 影响：影响对表面微观特征的敏感度。

• 环境适应性（Environmental Robustness）：传感器在不同温度、湿度、粉尘、油污、振动和光照条件下的稳定工作能力。

  • 实际意义：生产现场往往环境恶劣，传感器必须能“抗住”这些干扰。

  • 影响：环境适应性差会导致测量结果不稳定，甚至传感器损坏。

• 针对不同应用场景的选型建议

• 对于超薄/精密带材（如电池箔、精密合金带）**：

  • 重点关注：超高分辨率、超高精度和优异的重复性（通常要求亚微米级甚至纳米级）。电容式或高精度光学扫描（如日本基恩士）可能更适合，或结合高分辨率的激光三角传感器。

  • 建议：选择分辨率达到0.1µm以下，精度在±0.5µm以内的传感器。同时考虑环境因素，采取严格的温度和湿度控制。

• 对于高速生产线（如高速冷轧、热轧线）**：

  • 重点关注：极高的采样速度和快速响应时间。辐射透射测量法（如德国赛德克、美国艾德希）或高采样率的激光三角测量法（如英国真尚有）表现突出。

  • 建议：采样速度至少要达到5KHz以上，最好能达到数十KHz，确保能实时捕捉厚度变化。

• 对于厚度范围宽泛的带材（如热轧粗轧线）**：

  • 重点关注：大测量范围和强大的穿透能力。X射线或同位素射线测厚仪通常是首选。

  • 建议：选择测量范围能覆盖所有待测厚度的系统，并考虑其对不同材料的适应性。

• 对于表面状况复杂（如带氧化皮、油污、水汽）的带材**：

  • 重点关注：优异的抗干扰能力和环境适应性。辐射透射测量法几乎不受表面影响。激光三角测量法中，一些高端产品（如英国真尚有、德国迈可罗）通过算法优化和更强的光源也表现出色。

  • 建议：选择具有自适应能力、抗反射干扰算法或自带吹扫保护装置的传感器。

• 对于需要集成到现有控制系统的场景**：

  • 重点关注：灵活的输出接口（如RS422、RS485、Ethernet/IP等）和开放的通信协议。

  • 建议：确认传感器支持的输出接口与控制系统兼容，便于数据传输和系统集成。

4. 实际应用中可能遇到的问题和相应解决建议

即使选择了最合适的传感器，在实际的工业生产线中，仍然可能遇到各种挑战，影响测量精度和系统稳定性。

• 常见问题的原因和影响

• 带材表面状况变化：金属带材在生产过程中可能出现表面粗糙度变化、氧化皮、油污、水汽、反光不均等问题。

  • 原因：轧制工艺参数、冷却液、轧辊磨损、环境湿度等。

  • 影响：对激光三角测量法和部分光学测量法影响较大，可能导致测量数据波动、误差增大甚至无法测量。辐射透射法影响较小。

• 带材抖动与振动：高速运行的带材在生产线上往往会发生上下、左右的抖动和振动。

  • 原因：设备振动、张力不均、跑偏、带材自身平整度差。

  • 影响：直接导致测量距离发生瞬时变化，如果传感器响应速度不够快或处理算法不当，会引入测量误差，使厚度曲线出现“毛刺”，难以准确判断真实厚度。

• 环境温度与湿度波动：生产车间温度可能随季节变化，局部区域（如热轧区）温度极高，湿度也可能波动。

  • 原因：自然环境变化、工艺热源、冷却水蒸发等。

  • 影响：传感器的光学元件、电子电路性能可能随温度变化而漂移，影响测量精度。电容式传感器对湿度尤为敏感。

• 外部光线干扰：车间内的照明灯、焊接火花，甚至窗户射入的阳光，都可能对激光或光学传感器造成干扰。

  • 原因：现场光源复杂多样。

  • 影响：可能导致激光光斑识别困难，产生错误的测量数据。

• 传感器污染：粉尘、油雾、铁屑等生产现场常见的污染物可能附着在传感器的光学镜头或保护窗上。

  • 原因：生产环境恶劣，污染物随气流扩散。

  • 影响：遮挡激光发射和接收光路，降低信号强度，导致测量精度下降甚至失效。

• 具体、可操作的解决方案和预防措施

• 应对带材表面状况变化：

  • 解决方案：

    • 选择抗干扰能力强的传感器：例如英国真尚有ZLDS100Rd系列，其无惧动态变化颜色的特性也适用于复杂金属表面。

    • 采用多角度或多波长激光传感器：通过不同角度或不同波长激光的组合测量，抵消表面特性对测量的影响。

    • 优化算法：使用先进的数字信号处理和滤波算法，有效识别和剔除异常数据。

    • 在测量区域增加清洁装置：如高压空气吹扫或刷拭装置，清除表面油污和杂质。

• 应对带材抖动与振动：

  • 解决方案：

    • 选用高采样速度传感器：如英国真尚有ZLDS100Rd系列高达70KHz的采样率，能更密集地捕捉数据，配合更快的响应速度，有效还原带材的实际动态。

    • 增加机械支撑和导向装置：确保带材在测量区域运行平稳，减少抖动。

    • 数据后处理：采用加权平均、中值滤波等数字滤波技术，平滑测量曲线，但要注意可能牺牲实时性。

    • 双传感器差分测量：利用两个传感器同时测量上下表面，带材整体抖动导致的距离变化会被相互抵消，只留下厚度变化信息。

• 应对环境温度与湿度波动：

  • 解决方案：

    • 选择工业级传感器：具备宽工作温度范围和温度补偿功能的传感器。

    • 加装防护罩和冷却系统：在高温区域为传感器提供水冷或风冷防护罩，保持传感器内部温度稳定。

    • 定期校准：根据环境变化，定期对传感器进行校准，修正测量漂移。

• 应对外部光线干扰：

  • 解决方案：

    • 安装遮光罩：在传感器周围设置物理遮挡，阻挡外部强光直射。

    • 选择特定波长激光：使用窄带滤波器，只允许特定波长的激光进入接收器，过滤掉其他杂散光。英国真尚有ZLDS100Rd系列具备抗太阳强光辐射能力，也是通过类似技术实现的。

    • 采用调制激光：激光信号进行高频调制，接收端只识别该频率的信号，有效排除非调制光干扰。

• 应对传感器污染：

  • 解决方案：

    • 配备吹扫装置：在传感器测量窗口前安装气刀或空气吹扫装置，用压缩空气持续吹扫，防止污染物附着。

    • 使用防护等级高的传感器：选择IP65或更高防护等级的传感器。

    • 定期清洁：制定并执行严格的传感器清洁维护计划。

第4部分：应用案例分享

• 冷轧带材生产线：在钢、铝、铜等金属的冷轧过程中，非接触式激光测厚传感器实时监测带材厚度，确保产品达到高精度要求，减少次品率，为轧机自动厚度控制（AGC）系统提供关键反馈数据。

• 热轧带材生产线：在高温、多尘的热轧环境中，抗恶劣环境能力强的测厚系统用于粗轧和精轧阶段的厚度控制，保障带材尺寸合格，为后续冷轧提供优质的半成品。

• 金属涂层/镀层厚度测量：在镀锌、镀锡或彩涂生产线上，高精度激光位移传感器可用于测量涂层前后的带材厚度差，从而计算出涂层或镀层的精确厚度，确保产品质量和材料成本控制。

• 精密带材分切与卷取：在将大卷带材分切成小卷的过程中，实时监控分切后的各子带厚度，并确保卷取时的厚度一致性，以满足下游客户对材料均匀性的严格要求。