LP-IM200皮米级干涉位移传感器是一种功能强大的非接触式位移测量系统。该控制器包含激光、探测电子器件,并通过多个接口提供所有数据。LP-IM200干涉仪控制器包含一个激光源和所有必要的电子器件来评估光信号。强大的固件模块,方便的软件和多功能的配件允许轻松集成LP-IM200干涉仪控制器到新的或已经存在的测量设置。
针对不同的应用情况,还可以提供多个不同的可选传感器头及配件:
(1)、一般用途的紧凑型传感器头,具有许多方便的功能。
(2)、具有准直光束的传感器头,可用于远距离和反向反射目标。
(3)、具有聚焦光束的传感器头具有较高的对准公差。
(4)、线聚焦光束用于圆柱形目标的传感器头。
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LP-IM200皮米级干涉位移传感器特点:
(1)、皮米级分辨率(1 pm)
(2)、测量带宽高达2.5 MHz (10 MHz采样率)
(3)、可通过3个平行激光进行三维测量
(4)、可以测量大多数材料(塑料,玻璃,金属,甚至水)
(5)、广泛的传感器头可用于不同的应用和环境(包括真空和低温)
(6)、可扩展到一个完整的实验室测量和控制仪器与可选模块
LP-IM200皮米级干涉位移传感器应用领域:
工业制造、生命科学、科学与基础研究
LP-IM200皮米级干涉位移传感器技术规格:
LP-IM200皮米级干涉位移传感器测量原理:
基于迈克尔逊干涉仪,这是一种测量位移和振动的精确方法。迈克耳孙干涉仪由波长稳定激光器、分束器、目标和参考镜组成。在分束器上,激光器发出的光被分成两条臂。一臂指向目标表面,另一臂指向参考镜。两臂的光分别被目标面和参考镜反射后,又返回到分束器。在这里,两臂重组和干涉发生。干扰信号包含目标表面相对于参考镜的位移信息。
LP-IM200皮米级干涉位移传感器应用领域:
工业制造、生命科学、科学与基础研究
LP-IM200皮米级干涉位移传感器应用领域:
工业制造、生命科学、科学与基础研究
LP-IM200皮米级干涉位移传感器安装尺寸:
英国真尚有-电容位移传感器|电容传感器|高精度电容传感器|ZNX系列
ZNX超精密电容位移传感器是一种基于电容测微原理的非接触式位置测量系统。 两个传感器板,一个目标和一个探头,形成一个平行板电容器。 可以使用适当的电子控制器测量这两个板的间距。 可以实现最小至 7 皮米 (RMS) 的分辨率。 我们的标准产品提供 20um 至 1250um 的测量范围,频率响应高达 5KHz,线性度低至 0.02%。高热稳定性结构(提供超殷钢、微晶玻璃和陶瓷选项)材料选择以最大限度地减少位置漂移。
CC-A-4101控制器是用于驱动 ZNXSensor 系列的单通道独立电子模块。 它通过测量平行板电容器的电容变化来工作,并输出与ZNXSensor 间隙成正比的模拟电压。
当传感器间隙从标称间隙的 50% 变化到 150% 时,电压输出在 -5V 和 +5V 之间线性变化,此比例可由用户设置。
ZNX超精密电容位移传感器其紧凑的尺寸、独立操作和高分辨率使其成为升级需要纳米定位的现有系统的理想选择。
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英国真尚有_电容传感器 | 电容式传感器 | 电容位移传感器(CWCS10)
CWCS10纳米级电容传感器采用电容式测量原理,无需接触被测物即可测量传感器与被测物表面之间的距离,并且具有纳米级的分辨率。
CWCS10纳米级电容传感器的最高工作温度受连接器内部焊接材料的熔化温度限制,标准探头也能在接近绝对零度的极低温度下进行测量。并且由于传感器的灵敏度容差很小,因此更换探头后无需重新校准仍然可以保证 ±0.5% 的总精度。对于特殊应用,纳米级电容传感器CWCS10的输出电压的灵敏度还可以调整为 0 到 10 倍。
CWCS10纳米级电容传感器测量受电介质特性的影响。通常用于空气中的测量,传感器和目标之间的区域应该完全没有灰尘、油或水。如有必要,这可以通过将空气吹过传感器和目标之间的间隙来实现。
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英国真尚有-皮米干涉位移传感器|干涉位移传感器|LP-IM100
LP-IM100皮米干涉位移传感器
可测量纳米范围内的位移(增量距离)。LP-IM100 采用模块化和小型化设计,可轻松使所有三个测量轴适应各种应用。
凭借其紧凑的尺寸,LP-IM100干涉位移传感器可以直接集成到机器中,是具有挑战性的OEM和同步加速器应用的首选产品。被动冷却的外壳最大限度地减少了噪音和振动,并避免干扰其他光学和电气部件。
对于更受限制的应用,传感器头可以远程操作,并通过玻璃纤维互连。位移测量干涉仪的法布里-珀罗技术使得传感器头具有更少的部件,因此测量更稳定。
各种数字和模拟实时接口和协议使位置数据的简单传输成为可能。用于实时数据通信的高速接口有AquadB、专有串行字(HSSL)、合成模拟sin/cos/和线性模拟输出信号。所有信号可以输出为单端(LVTTL)或差分(LVDS)。
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