ZNX超精密电容位移传感器是一种基于电容测微原理的非接触式位置测量系统。 两个传感器板，一个目标和一个探头，形成一个平行板电容器。 可以使用适当的电子控制器测量这两个板的间距。 可以实现最小至 7 皮米 (RMS) 的分辨率。 我们的标准产品提供 20um 至 1250um 的测量范围，频率响应高达 5KHz，线性度低至 0.02%。高热稳定性结构（提供超殷钢、微晶玻璃和陶瓷选项）材料选择以最大限度地减少位置漂移。

CC-A-4101控制器是用于驱动 ZNXSensor 系列的单通道独立电子模块。 它通过测量平行板电容器的电容变化来工作，并输出与ZNXSensor 间隙成正比的模拟电压。 当传感器间隙从标称间隙的 50% 变化到 150% 时，电压输出在 -5V 和 +5V 之间线性变化，此比例可由用户设置。

ZNX超精密电容位移传感器其紧凑的尺寸、独立操作和高分辨率使其成为升级需要纳米定位的现有系统的理想选择。

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拥有同步在线测厚功能，不需要额外的控制器和校准设备，可直接将两台测厚传感器连接起来组成激光测厚仪。

性能指标：±1μm的分辨率，±3μm的线性度。低成本替代成套测厚仪。

可测500℃~2200℃高温物体， 进行厚度、宽度、长度、高度、 直径、轮廓的精密测量，是冶金行业必备的精密测量仪.

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SCE(IR)-HR-C1光谱共焦传感器完美适用于非接触式测量轮廓和层厚度。 该传感器采用了两种不同的测量方法，可以进行 30 µm 至 1200 mm 的厚度测量，距离测量的横向分辨率在次微米范围内。 高强度光源和不同寻常的高动态性能可通过卓越的信噪比确保具有不同反射强度和倾斜度的表面上最佳的测量结果。

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